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廖王廖王

教师简历

学位 信息科学博士
学术背景 大阪大学研究生院信息科学研究生院信息系统工程系结业（2019年）
东北大学信息科学研究生院控制理论与工程系结业（中国）（2015）
毕业于沉阳工业大学电气工程学院控制工程系（中国）（2013）
工作经历 XK星空系统工程组讲师（2023-）
东京大学光子科学研究中心客座研究员（2023-）
东京大学光子科学研究中心特聘研究员（2021-2023）
NTT 计算机与数据科学研究所客座研究员 (2022-2023)
XK星空系统工程系，助理教授（2019-2021）
大阪大学大学院情报科学研究生院客座研究员（2019-2021）
资质
专业 大规模集成电路
FPGA
量子纠错
实验室 名称 量子/经典集成电路实验室
详情 集成电路是计算机的核心，是信息社会的大脑，由数十亿个微观计算电路单元巧妙地组装而成。围绕支持人工智能等多种信息系统对算力的巨大需求，我们实验室旨在提高现有经典集成电路的效率和可靠性。此外，我们正在致力于通过解决进行量子纠错等控制的集成电路问题来实现大规模量子计算机，这对于从根本上彻底改变计算方法的量子计算机的实际应用来说是必要的。
所属学会 IEEE
日本信息处理学会

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今年讲授的讲座

教师/小组 CAD/绘图/
研究生院 量子计算简介

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研究种子

可讨论的领域 集成电路设计
电路和系统可靠性评估
量子纠错配置设计
当前研究 软错误

基于FPGA的深度学习加速器

容错量子计算

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研究成果

主要奖项等

  • IEEE CAS 关西分院学生研究鼓励奖（2020 年）
  • RADECS 2018 最佳论文奖（2018）

代表性研究论文

标题 作者 出版杂志 公告年份
Genshin：用于可靠性分析的软硬件协同设计和修剪故障注入的通用框架 程泉、池浩阳、梁建兴、赵玉红、张惠子、梁远、张明涛、廖旺、熊进军、刘静嘉、桥本正德、林龙阳 国际贸易中心 2025
用于空间机器人的具有自我修复尖峰像素和统一尖峰神经网络的抗辐射神经形态成像仪 程泉、李秋峰、杨正科、孔震、牛高强、梁远、李嘉民、朴正焕、廖旺、Awano Hiromitsu、佐藤隆、林龙阳、桥本正则 VLSI 研讨会，第 C27-3 号，第 1-3 页 2025
HachiFI：用于 SEU 影响评估的轻量级 SoC 架构独立故障注入框架 程泉、廖旺、张瑞林、余浩、林龙阳、桥本正则 日期，第 1-7 页 2025
12 nm FinFET SRAM、28 nm 平面 SRAM 和寄存器文件中不同单元类型的 Muon 诱导 SEU 分析和仿真 Gomi Yuibi、Takami Kazusa、Mizuno Rurie、Niikura Megumi、Yasuda Ryuichi、邓一凡、Kawase Shoichiro、Watanabe Yukinobu、Abe Shin-Ichiro、廖旺、Tampo Motonobu、Takeshita Soshi、Shimomura Koichiro、Miyake Yasuhiro、Hashimoto Masanori IEEE 核科学汇刊，第 72 卷，第 8 期，第 2751-2762 页 2025
在黑盒/白盒情况下估算软错误影响的准确度如何？--边缘 AI SoC 的案例研究-- 程泉、李秋峰、林龙阳、廖旺、戴六耀、余浩、桥本正则 DAC 2024
辐照侧对 65 nm 大容量 SRAM 中 μ 子引发的单粒子扰动的影响 邓一芳、渡边幸信、真锅诚哉、廖望、桥本正则、阿部信一郎、田浦元信、三宅泰弘 IEEE 核科学汇刊，第 71 卷，第 4 期，第 912-920 页 2024
WIT-Greedy：表面代码加权迭代贪婪解码器的硬件系统设计 廖王、铃木康成、谷本辉夫、上野洋介、德永佑纪 ASP-DAC 2023
实用规模容错量子计算的电路设计 铃木康成、上野洋介、廖王、田中正光、谷本照夫 IEEE 超大规模集成电路技术与电路研讨会 2023
一种基于仿真和一次性中子辐照测试的地面 SER 估算方法 Shin-Ichiro Abe、Masanori Hashimoto、廖旺、Takashi Kato、Hiroaki Asai、Kenichi Shimbo、Hideya Matsuyama、Tatsuhiko Sato、Kazutoshi Kobayashi、Yukinobu Watanabe IEEE 核科学汇刊，第 70 卷，第 8 期，第 1652-1657 页 2023
Q3DE：针对宇宙射线多位突发错误的容错量子计算机架构 铃木康成、杉山刚典、新井智亲、廖望、井上浩二、谷本辉夫 IEEE 微型 2022
FPGA CRAM 中的中子诱导 SEU 对自动驾驶基于图像的车道跟踪的影响：从位翻转到 SEFI 和错误行为 田中友成、廖望、桥本正则、三山由纪夫 IEEE 核科学汇刊，第 69 卷，第 1 期 2022
表征低能中子诱导 SEU 和 MCU 的能量依赖性及其对 65 nm Bulk SRAM 中地面 SER 估计的影响 廖旺、伊藤小二郎、阿部信一郎、三山幸雄、桥本正则 IEEE 核科学汇刊，第 68 卷，第 6 期 2021
入射角对 65 nm Bulk 和 FDSOI SRAM 的负 μ 子诱导 SEU 横截面的影响 廖王、桥本正则、真锅诚哉、渡边幸信、阿部信一郎、田浦元信、竹下宗志、三宅泰弘 IEEE 核科学汇刊，第 67 卷，第 7 期 2020
分析 SRAM、FF 和组合电路对芯片级中子诱发软错误率的影响 廖王，桥本正德 IEICE 电子交易，第 E102C 卷，第 4 期 2019
65 nm Bulk SRAM 中中子和负 μ 子诱导 MCU 的相似性分析 廖王、桥本正则、真锅圣也、安倍信一郎、渡边幸信 IEEE 核科学汇刊，第 66 卷，第 8 期 2019
65 nm Bulk SRAM 中负和正 μ 子引起的扰动的测量和机制研究 廖望、桥本正则、真锅圣哉、渡边幸信、安倍晋一郎等 IEEE 核科学汇刊，第 65 卷，第 8 期 2018

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学术演讲、讲座等

  1. 当先进存储器遇到软错误——来自新来源和新设备的挑战——第六届电子设备辐射效应国际会议（2025）
  2. 使用 Muon、散裂和准单能中子源表征 65 nm Bulk SRAM，软错误研究小组 (2018)
  3. SRAM、FF 和组合电路对芯片级中子诱发软错误率的贡献 - 05 和 10V 下的批量与 FD-SOI -，NEWCAS (2019)
  4. 65nm 大容量 SRAM 中负和正 μ 介子引起的扰动的测量和机制研究，RADECS (2017)
  5. 65 nm Bulk SRAM 中中子和负 μ 子诱发 MCU 的相似性分析，RADECS (2018)
  6. 入射角对 65 nm Bulk SRAM 的负 μ 子诱导 SEU 横截面的影响，RADECS (2019)
  7. 表征 65 nm 大容量 SRAM 中低能中子感应 MCU 的能量依赖性，IRPS (2020)
  8. 基于 SRAM FPGA 中实现的白线跟踪的自动驾驶机器人软错误可靠性评估，软错误研究会议（2021 年）
  9. WIT-Greedy：表面代码加权迭代贪婪解码器的硬件系统设计，量子软件研究小组（2022）
  10. 使用虚拟环境的基于 FPGA 的自动驾驶系统中软错误引起的故障的测试流程，ATS 2022 (2022)
  11. WIT-Greedy：表面代码加权迭代贪婪解码器的硬件系统设计，ASP-DAC 2022 (2023)

科研基金

KAKEN 是国家信息研究所提供的一项服务。

分类 研究主题 研究类别 研究期 作业编号
代表 太空环境下最先进的商用基于SRAM的FPGA的软错误配置信息保护技术的建立 年轻研究员 2021 - 2023 21K17721
代表 用于容错量子计算机集成的VLSI解码器设计 年轻研究员 2024 - 2028 年（计划） 24K20755
分享 开发下一代集成系统可靠性评估基础技术，以克服宇宙射线引起的故障 基础研究（S） 2024 - 2028 年（计划） 24H00073

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社会贡献及公关活动

外部委员会成员、学术活动等

  1. 日本信息处理学会日本信息处理学会IPSJ系统和LSI设计技术研究组（SLDM）指导委员会（2025-2026）
  2. 第51届量子信息技术研究组（QIT51）执行委员会
  3. IEEE 四国分会提名委员会成员（2024-2026）

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