教职人员

语言 ≫ 日语

助理教授
廖王

博士（信息学），日本大阪大学，2019 年

出生年份：1992年
性别：男
所属单位：系统工程学院
个人网站：https://sitesgooglecom/view/liaolab-en/
研究地图：https://researchmapjp/liaowang

专业领域	超大规模集成电路 FPGA 量子纠错
实验室/研究办公室	量子与经典集成电路实验室集成电路（IC）由许多用于计算的基本单元组成；它们是计算机的核心部件，是信息社会的智能大脑。在后CMOS阶段，我们正在研究应对量子比特集成相关挑战的方法，包括量子纠错，以实现实用的大规模量子计算机。
当前研究主题	软错误
教育背景	2019：日本大阪大学博士 2015：中国东北大学硕士 2013: 沉阳工业大学学士
专业背景	2023-：东京大学客座研究员 2023-：XK星空助理教授 2022-2023：NTT 计算机和数据科学实验室访问研究员 2021-2023：东京大学项目特定研究员 2019-2021：研究员，XK星空 2019-2021：大阪大学客座研究员
许可证
学术团体	IEEE IPSJ

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课程

* 以英语提供的课程带有 (E) 标记

本科学校	CAD/画法几何计算机工程概论电子和光子实验2 毕业论文电子系统设计
研究生院

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研究活动

研究论文	作者：程泉、池浩阳、梁建兴、赵玉红、张惠子、梁远、张明涛、廖旺、熊进军、刘静嘉、桥本正德、林龙阳标题：Genshin：用于可靠性分析的软硬件协同设计和修剪故障注入的通用框架期刊：ITC、IEEE 年份：2025 年作者：Gomi Yuibi、Takami Kazusa、Mizuno Rurie、Niikura Megumi、Yasuda Ryuichi、Deng Yifan、Kawase Shoichiro、Watanabe Yukinobu、Abe Shin-Ichiro、廖望、Tampo Motonobu、Takeshita Soshi、Shimomura Koichiro、Miyake Yasuhiro、Hashimoto Masanori 标题：12 nm FinFET SRAM、28 nm 平面 SRAM 和寄存器文件中不同单元类型的 μ 子诱导 SEU 分析和仿真期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 72，第 8 期，第 2751-2762 页，IEEE 年份：2025 年作者：程泉、李秋峰、杨正科、孔震、牛高强、梁远、李嘉敏、朴正焕、廖望、粟野弘光、佐藤隆、林龙阳、桥本正则标题：用于空间机器人的具有自我修复尖峰像素和统一尖峰神经网络的抗辐射神经形态成像仪期刊：VLSI 研讨会，第 C27-3 号，第 1-3 页，IEEE 年份：2025 年作者：程泉、廖旺、张瑞林、余浩、林龙阳、桥本正则标题：HachiFI：用于 SEU 影响评估的独立于 SoC 架构的轻量级故障注入框架期刊：日期，第 1-7 页，IEEE 年份：2025 作者：程泉、李秋峰、林龙阳、廖旺、戴六耀、余浩、桥本正则标题：在黑盒/白盒情况下估算软错误影响的准确度如何？--边缘 AI SoC 的案例研究-- 期刊：DAC、IEEE 年份：2024 年作者：邓一芳、渡边幸信、真锅诚哉、廖王、桥本正则、阿部信一郎、田浦元信、三宅泰宏标题：辐照侧对 65 nm 大容量 SRAM 中 μ 子引发的单粒子扰动的影响期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 71，第 4 期，第 912-920 页，电气和电子工程师协会 (IEEE) 年份：2024 年作者：铃木康成、上野洋介、廖王、田中正光、谷本照夫标题：实用规模容错量子计算的电路设计期刊：IEEE 超大规模集成电路技术与电路研讨会，IEEE 年份：2023 年作者：阿部真一郎、桥本正则、廖王、加藤隆、浅井博明、新保健一、松山秀也、佐藤龙彦、小林一俊、渡边幸信标题：一种基于仿真和一次性中子辐照测试的地面 SER 估算方法期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 70，第 8 期，第 1652-1657 页，IEEE 年份：2023 年作者：廖望、铃木康成、谷本辉男、上野洋介、德永佑纪标题：WIT-Greedy：表面代码的加权迭代贪婪解码器的硬件系统设计期刊：ASP-DAC 年份：2023 作者：铃木康成、杉山刚典、新井智亲、廖望、井上浩二、谷本辉夫标题：Q3DE：针对宇宙射线多位突发错误的容错量子计算机架构期刊：IEEE MICRO 年份：2022 年作者：田中友成、廖望、桥本正则、三山由纪夫标题：FPGA CRAM 中中子诱发的 SEU 对自动驾驶基于图像的车道跟踪的影响：从位翻转到 SEFI 和错误行为期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 69号，1号年份：2022 年作者：廖望、伊藤小次郎、阿部信一郎、光山幸雄、桥本正则标题：表征低能中子诱导 SEU 和 MCU 的能量依赖性及其对 65 纳米体 SRAM 中地面 SER 估计的影响期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 68号6号年份：2021 作者：廖望、桥本正则、真锅圣也、渡边幸信、阿部信一郎、田浦元信、竹下宗史、三宅泰弘标题：入射角对 65 nm Bulk 和 FDSOI SRAM 的负 μ 子诱导 SEU 横截面的影响期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 67号7号年份：2020 作者：廖望、桥本正则、真锅圣也、安倍信一郎、渡边幸信标题：65 nm Bulk SRAM 中中子和负 μ 子诱导 MCU 的相似性分析期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 66号8号年份：2019 作者：廖王、桥本正则标题：分析 SRAM、FF 和组合电路对芯片级中子诱发软错误率的影响期刊：IEICE 电子交易，卷。 E102C，第 4 号年份：2019 作者：廖望、桥本正则、真锅圣哉、渡边幸信、安倍晋一郎等人标题：65 nm 大容量 SRAM 中负和正 Mu 子引起的扰动的测量和机制研究期刊：IEEE 核科学汇刊，卷。 65号8号年份：2018
主题演讲	当先进存储器遇到软错误——来自新来源和新器件的挑战——第六届国际电子器件辐射效应会议，扬州，2025年
特邀讲座	使用虚拟环境的基于 FPGA 的自动驾驶系统中软错误引起的故障的测试流程，2022 年自动驾驶系统中基于 SRAM FPGA 的车道边缘跟踪中软错误的可靠性评估，软错误研讨会，在线，2021 年使用 Muon、散裂和准单能中子源表征 65 nm Bulk SRAM，软错误研讨会，福冈，2018 年
奖项	IEEE CAS 关西分会学生研究奖，2020 年 RADECS 2018 最佳论文奖，2018
日本政府的科学研究援助	项目名称：空间应用高级工艺节点上基于 SRAM 的 FPGA 配置信息针对软错误的保护策略类别：早期职业科学家资助项目编号：21K17721 项目周期：2021-2023 预算总额：4,550,000日元关键字：项目名称：容错量子计算机可扩展解码器的VLSI设计类别：早期职业科学家资助项目编号：24K20755 项目周期：2024-2028 预算总额：4,160,000日元关键字：

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社交活动

委员会角色	日本信息处理学会 (IPSJ) 系统和 LSI 特别兴趣小组委员会成员，日本信息处理学会，2025-2026 年第 51 届量子信息技术研讨会 (QIT51) 联合主席 IEEE 四国部分提名委员会，2024-2026

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