9月25日至29日在新加坡国立大学举行的第24届非接触原子力显微镜国际会议（nc-AFM 2023）上，Emiko Murata（研究生院硕士课程智能机械工程课程二年级，山口县立山口高中毕业生/顾问：极限纳米工艺实验室）稻波英一副教授)荣获海报奖。
会议上做了主题为“使用电压脉冲扫描探针显微镜测量局域功函数绝对值”的演讲。
功函数是物质发射电子所需的最小能量，是决定电子器件（例如太阳能电池、发光二极管、锂离子电池等）工作性能的重要物理性质值。如今，随着纳米技术的快速进步，微加工的精度已降低到原子大小，为了提高各种电子材料的性能，需要以高空间分辨率精确测量功函数。
村田先生领导的研究小组提出了一种利用扫描探针显微镜和在几十纳秒的短时间内产生瞬时电压的装置相结合的新方法，以原子级空间分辨率精确测量材料功函数的方法，并报告了旨在实现该方法的初步实验结果。
如果这项研究取得进展，能够基于原子级物理性质的精确预测来研发下一代功能材料和器件，将导致计算机进一步小型化、高性能、低成本和节能。
(Pulse voltage scanning probe microscope principle)
村田先生在领奖时说道：“我很荣幸能够在来自世界各地的研究人员齐聚的国际会议上获得认可。我要对 Inami 教授和实验室的每个人的指导表示深深的谢意。为了从理论上研究原子水平上功函数的绝对值是否准确，我们很难从英文文献中收集信息。将来，我们的研究重点是建立允许分析考虑当前噪声的原则。''
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